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XRF熒光光譜儀EDX4500H是一種較新型的可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線（即X熒光）。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。

國產X熒光光譜分析儀EDX4500H是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。 該儀器的主要特征是利用智能真空系統，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。

X熒光光譜儀EDX3600K的亮點在于它大鈹窗超薄口的高分辨SDD探測器和自旋式的樣品腔，產品通過了江蘇省計量科學研究院的檢測，并通過中國儀器儀表學會分析儀器分會組織的科技成果鑒定。

EDX3200S-PLUS（食品重金屬光譜快速分析儀）屬于江蘇天瑞儀器股份有限公司自主研發的產品，設備采用了能量色散X射線熒光光譜（EDXRF）技術實現食品中微量重金屬有害元素的快速檢測，設備采用了良好的探測器和激發源等硬件配置。

大氣顆粒物重金屬光譜檢測儀是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。該儀器的主要特征是利用智能真空系統，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果，利用XRF技術可對大氣顆粒物富集物重元素進行分析，在大氣濾膜富集物含量分析中具有無損、快速、準確等特點，有效提高檢測時間和工作效率。